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行業(yè)新聞

TR5001E ICT檢測(cè)儀
更新時(shí)間:2020-08-28    瀏覽次數(shù):2831

規(guī)格

測(cè)試點(diǎn)數(shù) 可達(dá)3200(模擬)/1600(數(shù)字)
作業(yè)系統(tǒng) 微軟Microsoft Windows 2000/XP/7
測(cè)試治具 兩段式壓床
可測(cè)電路板尺寸 標(biāo)準(zhǔn): (寬) 360 mm x (長(zhǎng)) 300 mm x (高) 100 mm
選配: (寬) 500 mm x (長(zhǎng)) 350 mm x (高) 100 mm

模擬測(cè)試
1、TestJet技術(shù)非向量式開(kāi)路檢測(cè),任意波形產(chǎn)生器(AWG),數(shù)字測(cè)試

數(shù)字測(cè)試
每腳位全新數(shù)位1:1非多工式驅(qū)動(dòng)/接收比設(shè)計(jì)
待測(cè)板電源: 5V@3A, 3.3V@3A, 12V@3A, 18V@3A, -12V@3A, 24V@3A
可編程DUT電源: 25V@8A, 75V@2.5A
邊界掃描, BGA Tree測(cè)試能力
支援快閃記憶體及EEPROM及MAC的在線燒錄


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