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新到測LED 3DAOI光學(xué)檢測儀

新到美陸3DAOI MV-6E OMNI 公司新到MV-6EOMNI　daoi mv－６e　Ｏmni系列為完整的3d在線光學(xué)檢測設(shè)備，有12組摩爾條紋光，1800萬像素側(cè)面相機(jī)和8段彩色照明系統(tǒng)，可測03015MM元件。利用4個3d發(fā)射頭獲得無盲點(diǎn)的3d圖像。靈活精靈自動編程。 測板大小，510*460 MM ……

DIP 爐后AOI/鐳晨AOI AIS301 AOI光學(xué)檢測儀 優(yōu)點(diǎn)：自動搜索焊點(diǎn)調(diào)參數(shù)功能，不停線即可優(yōu)化參數(shù) ，一健同步同類焊點(diǎn)算法 最大測板：450*400 相機(jī)相素：500萬 光源：RGB三色環(huán)形LED光源 算法：深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法，圖像對比，偏移檢測，顏色對比，模板匹配 等

SPI 3D錫膏印刷檢查裝置 VP5200L-V 在線型 硬體規(guī)格 電路板尺寸

新到美陸雙軌AOI九九成新 MV-6DL 機(jī)器雙軌模式510*300 單軌模式510*600 解析度10UM 1500萬相素 品牌 韓國美陸MIRTEC ……

TR7700Q 3D AOI 擁有數(shù)位四向條紋光投影技術(shù)，結(jié)合最新穎的2D+3D 檢測技術(shù)，為組裝電路板檢測領(lǐng)域掀起全新革命。全方位3D數(shù)位條紋光技術(shù)涵蓋檢測范圍廣闊，擁有極佳的精準(zhǔn)性呈現(xiàn)極小共面缺陷及焊點(diǎn)問題。 TRI的3D錫點(diǎn)及爬錫檢測符合IPC標(biāo)準(zhǔn)，確保爬錫的品質(zhì)。藉由檢查爬錫高度及體積，TR7700Q 3D AOI可檢測出少錫、缺錫、空焊等不良現(xiàn)象。 德律TR7700Q特性： 1.超高精準(zhǔn)度 2D+3D AOI

美陸AOI MV-7XI 3臺 赫立AOI LX520IL 3臺 德律泰TR7700SIII 1臺 德律泰TR7700SII PLUS 6臺 2.25 德律泰TR7700SII 2臺 德律泰TR7710 2臺 2.25 德律AOITR7500 SII 4臺 德律AOI7500L……

二手泰AOI　SPI　TR7700SIIPLUS TR7007SIIPLUS銷售租賃 TR7710 TR7700SIII

AOI的基本工作原理 AOI檢測過程：通過光學(xué)部分獲得需要檢測的圖像；通過圖像處理部分來分析、處理和判斷。圖像處理部分需要很強(qiáng)的軟件支持，因?yàn)楦鞣N缺陷需要不同的計(jì)算方法用計(jì)算機(jī)進(jìn)行計(jì)算和判斷。 計(jì)算方法：黑／白、求黑占白的比例、彩色、合成、求平均、求和、求差、求平面、求邊角。 2．AOI的檢測過程 1)AOI對光源變化的智能控制 (1)人認(rèn)識物體是通過光線反射回來的量進(jìn)行判斷，反射量多為亮，反射量少為暗。 (2)AOI通過人工光源LED燈光代替自然光，光學(xué)透鏡和

◆ 單軌高速三維錫膏檢測系統(tǒng) ◆ PSLM PMP 可編程相位輪廓調(diào)制測量技術(shù) ◆ 檢測項(xiàng)目：體積，面積，高度，XY偏移，形狀 ◆ 檢測不良類型：漏印，多錫，少錫，連錫，偏移，形狀不良 ◆ 小檢測元件：01005（英制） ◆ XY定位精度：1um Grating ruler ◆ 重復(fù)性精度：高度<1um(4……

要求 解法方法 解決陰影問題 : 陰影的摩爾條文&雙方向照射光系統(tǒng) 板彎實(shí)時補(bǔ)償(2D+3D方案) : 板彎補(bǔ)償(PadReferencing+Z-Tracking(達(dá)叨) 操作方便 : RenewalGUI、彩色3D圖片 異物檢測 : 30異物檢測功能(選項(xiàng)) 檢測性能 ……

捷智科技所研發(fā)的6300 3D 錫膏檢測機(jī),採用雙邊投光的光源設(shè)計(jì),高效率的且無陰影產(chǎn)生。使用解析度為10um的3D全彩相機(jī),可清楚辨識錫膏的體積與高度,且全彩相機(jī)更可以濾除不同板材的底色,讓板材底色與銅箔間的色差清楚呈現(xiàn),搭配高精度的線性馬達(dá)傳動.移動精度可達(dá)1um.在高解析度與高精度的結(jié)合下檢測速度可達(dá)到業(yè)界高的8……